利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復(fù)性好。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。