多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。