曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。