所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。