標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當降低。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。