軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

測定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。