與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復性好。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。