判斷題CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
最新試題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。
題型:判斷題
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。
題型:判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
題型:判斷題
縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。
題型:判斷題
測(cè)定組合靈敏度時(shí),應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進(jìn)行測(cè)試。
題型:判斷題
多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。
題型:判斷題
測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。
題型:判斷題
串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。
題型:判斷題
雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題