串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結合工件形狀和檢測技術綜合考慮。

脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

標準試塊的材質應盡可能與被檢工件相同或相近。