盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。