軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。