測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。