標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。