多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。