盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。