脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。