A.由于分離出較強的橫波,縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強的橫波,縱波衰減嚴重
C.由于分離出較強的橫波,可以接收到反射橫波
D.以上都是
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A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時,隔聲層應盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射
B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射
C.被尖銳的邊緣拐角吸收
D.以上都可能發(fā)生
A.被檢工件太厚
B.工件底面與探測面不平行
C.工件與試塊材質(zhì)或表面光潔度有差異
D.以上都是
A.可利用缺陷的陰影效果進行評價
B.可不考慮傳輸修正
C.常用于對缺陷定量不嚴格的工件
D.有助于檢測因缺陷形狀等原因使反射信號減弱的大缺陷
A.超聲波的波長
B.超聲波在物質(zhì)中的速度
C.超聲波的能量
D.超聲波的頻率
最新試題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
儀器水平線性影響()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
單探頭法容易檢出()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
調(diào)節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。