CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。