單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

底波高度法經常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結合工件形狀和檢測技術綜合考慮。

脈沖重復頻率的調節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關的位置。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結果重復性好。