盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。

縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。