單項選擇題鋼板探傷中，聲速垂直入射缺陷表面，回波高度（）。
A、粗糙表面回波幅度高
B、無影響
C、光滑表面回波幅度高
D、以上都可能
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1.單項選擇題直探頭接觸法探傷時，底面回波降低或消失的原因是（）。
A、耦合不良
B、存在與聲束不垂直的缺陷
C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷
D、以上都可能
2.單項選擇題超聲探傷中所謂缺陷的指示長度，指的是（）。
A、采用當(dāng)量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷，采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
3.單項選擇題直探頭從端部探測細棒狀工件時，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生（）所致。
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
4.單項選擇題零件的材料組織或密集的細小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號顯示叫做（）。
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
5.單項選擇題焊縫斜角探傷時，如采用直射法，應(yīng)該考慮（）等干擾回波的影響。
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
題型：單項選擇題
（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。
題型：單項選擇題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
題型：單項選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。
題型：單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項選擇題
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
題型：單項選擇題
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
題型：單項選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
題型：單項選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：單項選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
題型：單項選擇題