單項(xiàng)選擇題當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的（）
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
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1.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無(wú)關(guān)
2.單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
3.單項(xiàng)選擇題采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線(xiàn)作成實(shí)用AVG曲線(xiàn)。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線(xiàn)進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
A.水平刻度線(xiàn)
B.垂直刻度線(xiàn)
C.刻度線(xiàn)
D.水平線(xiàn)
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
最新試題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿(mǎn)足需要的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）件對(duì)不同類(lèi)型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題