單項選擇題直探頭從端部探測細(xì)棒狀工件時，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生（）所致。
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
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1.單項選擇題零件的材料組織或密集的細(xì)小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號顯示叫做（）。
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
2.單項選擇題焊縫斜角探傷時，如采用直射法，應(yīng)該考慮（）等干擾回波的影響。
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
3.單項選擇題在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時，由于存在著（），所以探傷靈敏度會明顯偏低。
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
4.單項選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時（）。
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
5.單項選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到（）。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
最新試題
特性是指實體所特有的性質(zhì)，它反映子實體滿足需要的（）
題型：單項選擇題
（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。
題型：單項選擇題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。
題型：單項選擇題
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）
題型：單項選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：單項選擇題
在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：單項選擇題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。
題型：單項選擇題
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：單項選擇題
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器，它是構(gòu)成（）系統(tǒng)的重要組成部分，對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
題型：單項選擇題
用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
題型：單項選擇題