單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向

2.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向

3.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的（）而定。

A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向

4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱(chēng)

5.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。

A.正交；高；偏離
B.正交；低；偏離
C.交叉；高；偏離
D.正交；高；脫離