A.觸點(diǎn)驅(qū)動(dòng)
B.機(jī)械驅(qū)動(dòng)
C.探頭驅(qū)動(dòng)
D.渦流驅(qū)動(dòng)
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你可能感興趣的試題
A.渦輪
B.木頭
C.管、棒
D.鐵
A.手動(dòng)化檢測(cè)
B.機(jī)械式檢測(cè)
C.自動(dòng)化檢測(cè)
D.手自一體化
A.膜層厚度
B.膜層高度
C.膜層寬度
D.膜層長(zhǎng)度
A.檢查結(jié)果相位
B.檢測(cè)結(jié)果高度
C.檢測(cè)結(jié)果幅度
D.檢查結(jié)果深度
A.萬(wàn)用表
B.兆歐表
C.渦流探傷
D.渦流測(cè)試儀
最新試題
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的()
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
掃查方式一般視試件的()而定。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()