A、采用當量試塊比較法測定的結(jié)果
B、對大于聲束的缺陷,采用底波對比而測得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動的距離而測得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
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A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
最新試題
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
各類渦流檢測儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
當波束不再與缺陷相遇,則回波()
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
直接射向缺陷的波就是()