A.40%
B.20%
C.10%
D.5%
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A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到回波
A.探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng),缺陷方向不利就不易探出
B.裂紋表面不光滑對(duì)回波強(qiáng)度影響越大
C.雜波太多
D.AB都對(duì)
A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.一定大
B.不一定大
C一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
最新試題
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。