A.一定大
B.不一定大
C一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
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A.提高探頭聲束指向性
B.校準(zhǔn)儀器掃描線性
C.提高探頭前沿長度和K值測定精度
D.以上都對
A.側(cè)面反射波帶來干涉
B.探頭太大,無法移至邊緣
C.頻率太高
D.以上都不是
A.小K值探頭
B.大K值探頭
C.軟保護(hù)膜探頭
D.高頻探頭
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。