A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
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A.一定大
B.不一定大
C一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
A.提高探頭聲束指向性
B.校準(zhǔn)儀器掃描線性
C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度
D.以上都對(duì)
A.側(cè)面反射波帶來干涉
B.探頭太大，無法移至邊緣
C.頻率太高
D.以上都不是
A.小K值探頭
B.大K值探頭
C.軟保護(hù)膜探頭
D.高頻探頭
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
儀器水平線性影響（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。