A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到回波
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A.探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng),缺陷方向不利就不易探出
B.裂紋表面不光滑對(duì)回波強(qiáng)度影響越大
C.雜波太多
D.AB都對(duì)
A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.一定大
B.不一定大
C一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
A.提高探頭聲束指向性
B.校準(zhǔn)儀器掃描線性
C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度
D.以上都對(duì)
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。