A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工反射體,調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達(dá)到基準(zhǔn)波高
C.計(jì)算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ(dB)
D.將儀器靈敏度增益Δ(dB),并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補(bǔ)償
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A.評(píng)定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.顯示屏上雜波多
B.干擾對(duì)缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢
A.定位
B.長度測量
C.高度測量
D.定量
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。