A.探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng),缺陷方向不利就不易探出
B.裂紋表面不光滑對(duì)回波強(qiáng)度影響越大
C.雜波太多
D.AB都對(duì)
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A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.大
B.小
C.無影響
D.不一定
A.一定大
B.不一定大
C一定不大
D.等于當(dāng)量尺寸
A.提高探頭聲束指向性
B.校準(zhǔn)儀器掃描線性
C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度
D.以上都對(duì)
A.側(cè)面反射波帶來干涉
B.探頭太大,無法移至邊緣
C.頻率太高
D.以上都不是
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。