單項選擇題()是具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸,可用以評定和校準超聲檢測設備的試塊。
A.對比試塊
B.標準試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
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1.單項選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用,說法錯誤的是()。
A.測試、校驗儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時基線、確定靈敏度
C.測試工件的聲阻抗
D.評判缺陷大小
2.單項選擇題探頭標牌上的型號為2.5P20Z,則說明探頭為()。
A.頻率為2MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz,晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz,晶片材料鈦酸鉛陶瓷,晶片直徑20mm的雙晶直探頭
3.單項選擇題探測與探測面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應選擇()。
A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
4.單項選擇題()是衡量壓電晶體材料接收性能的重要參數(shù)。數(shù)值大,接收性能好,接收靈敏度高。
A.壓電應變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機械品質(zhì)因子
5.單項選擇題()是衡量壓電晶體材料發(fā)射性能的重要參數(shù)。數(shù)值大,發(fā)射性能好,發(fā)射靈敏度高。
A.壓電應變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機械品質(zhì)因子
最新試題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
題型:單項選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項選擇題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:單項選擇題
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項選擇題