單項(xiàng)選擇題當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
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1.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
A.可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測(cè)的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
2.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
A.x〈3N
B.x≥N
C.x≥2N
D.x≥3N
3.單項(xiàng)選擇題底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
4.單項(xiàng)選擇題靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
A.選擇與待檢工件尺寸相同或相近的試塊
B.將探頭對(duì)準(zhǔn)試塊上的人工反射體,調(diào)節(jié)儀器使示波屏上人工缺陷的最高反射波達(dá)到基準(zhǔn)波高
C.計(jì)算出人工反射體與所要求的靈敏度之間的回波分貝差Δ(dB)
D.將儀器靈敏度增益Δ(dB),并根據(jù)工件和試塊的材質(zhì)給予一定補(bǔ)償
5.單項(xiàng)選擇題實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題