單項(xiàng)選擇題能用于測定縱波平底孔實(shí)用AVG曲線的試塊是（）。
A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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1.單項(xiàng)選擇題（）是以特定方法檢測特定試件時(shí)所用的試塊，與受檢件材料聲學(xué)特性相似，含有意義明確的參考反射體。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
2.單項(xiàng)選擇題（）是具有規(guī)定的材質(zhì)、表面狀態(tài)、幾何形狀與尺寸，可用以評定和校準(zhǔn)超聲檢測設(shè)備的試塊。
A.對比試塊
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.模擬試塊
D.專用試塊
3.單項(xiàng)選擇題關(guān)于超聲波試塊的作用，說法錯誤的是（）。
A.測試、校驗(yàn)儀器和探頭的性能
B.調(diào)整時(shí)基線、確定靈敏度
C.測試工件的聲阻抗
D.評判缺陷大小
4.單項(xiàng)選擇題探頭標(biāo)牌上的型號為2.5P20Z，則說明探頭為（）。
A.頻率為2MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑25mm的直探頭
B.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
C.頻率為2.5MHz，晶片材料鋯鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的直探頭
D.頻率為2.5MHz，晶片材料鈦酸鉛陶瓷，晶片直徑20mm的雙晶直探頭
5.單項(xiàng)選擇題探測與探測面成一定角度的近表面缺陷或薄件中的缺陷應(yīng)選擇（）。
A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項(xiàng)選擇題