盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。