A.鉆孔取芯法
B.沖擊彈性波法
C.雷達(dá)法
D.電磁誘導(dǎo)法
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你可能感興趣的試題
A.測(cè)試范圍廣
B.需要雙面測(cè)試
C.測(cè)試穩(wěn)定性較好
D.易于獲取波速參數(shù)
A.混凝土強(qiáng)度等級(jí)相同
B.試驗(yàn)齡期相同
C.均勻性基本相同
D.配合比基本相同
A.鉆芯法
B.超聲波-回彈綜合法
C.回彈法
D.試件法
A.30MPa
B.40MPa
C.50MPa
D.60MPa
A.+10mm至-7mm
B.+10mm至-5mm
C.+8mm至-7mm
D.+8mm至-5mm
最新試題
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。
X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。