X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每（）年一次。

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé)，對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定，需要通過底片觀察提供幫助時(shí)，X光室應(yīng)予以配合。

一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。

下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。