A.測試范圍廣
B.需要雙面測試
C.測試穩(wěn)定性較好
D.易于獲取波速參數(shù)
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A.混凝土強(qiáng)度等級(jí)相同
B.試驗(yàn)齡期相同
C.均勻性基本相同
D.配合比基本相同
A.鉆芯法
B.超聲波-回彈綜合法
C.回彈法
D.試件法
A.30MPa
B.40MPa
C.50MPa
D.60MPa
A.+10mm至-7mm
B.+10mm至-5mm
C.+8mm至-7mm
D.+8mm至-5mm
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.3mm
D.0.4mm
最新試題
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。
射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。