A.等于1
B.等于0
C.等于負數(shù)
D.等于μ0
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A.與測量繞組直徑無關(guān)
B.與測量繞組直徑成正比
C.與測量繞組直徑平方成正比
D.與測量繞組直徑立方成正比
A.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“尾”
B.第二個繞組的“頭”接第一個繞組的“尾”
C.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“頭”
D.以上三種均可以
A.試件的真實磁導率
B.真空磁導率
C.一個假設(shè)的隨試件各點性能變化的磁導率
D.標準試件的相對磁導率
A.分辨力
B.準確度
C.靈敏度
D.線性度
A.自然傷
B.缺陷的絕對深度
C.標準傷
D.缺陷的絕對體積
最新試題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。
提出有效磁導率的是下列哪位科學家（）
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗蓋章確認，確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進行X射線檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。
為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責管理。
對于圓柱導體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）