A.考試方式包括筆試、操作考試以及必要的口試；考試內(nèi)容包括基礎(chǔ)技術(shù)和專業(yè)技術(shù)兩個(gè)部分
B.只要筆試和操作考試在80分以上，就免予口試
C.共培訓(xùn)練習(xí)用的試塊也可作為考試試樣
D.技術(shù)資格合格，筆試和操作考試平均在80分以上，報(bào)考人員就可以取得II級(jí)資格證書(shū)
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A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米，槽深15微米
D.槽寬15微米，槽深100微米
A.10N
B.45N
C.87N
D.177N
A.VA-D
B.FB-W
C.FC-S
D.以上都不合適
A.在任何情況下，只要根據(jù)一種無(wú)損檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果，就能斷定被檢對(duì)象的內(nèi)部質(zhì)量情況
B.為了提高無(wú)損檢測(cè)的可靠性，無(wú)論用什么檢測(cè)方法都應(yīng)力求采用最高的檢測(cè)靈敏度
C.無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果可以作為評(píng)定工件或材料質(zhì)量的重要依據(jù)，但有時(shí)也需要根據(jù)其他檢驗(yàn)方法所得到的檢測(cè)參數(shù)作綜合評(píng)定
D.由于無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果往往來(lái)自間接獲得的物理參數(shù)，因此這種結(jié)果僅僅提供了對(duì)工件或材料評(píng)價(jià)的、不重要的參考數(shù)據(jù)
A.TC135
B.TC17
C.TC44
D.以上都是
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。