底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。