單項(xiàng)選擇題相位反轉(zhuǎn)法的理論依據(jù)為()

A.波的衍射原理
B.波的反射原理
C.波的折射原理
D.波的繞射原理


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1.單項(xiàng)選擇題以下測(cè)試項(xiàng)目中,需要進(jìn)行數(shù)據(jù)二次解析的為()

A.沖擊回波法測(cè)厚度
B.彈性波CT法測(cè)缺陷
C.相位反轉(zhuǎn)法測(cè)裂縫
D.單面反射法測(cè)缺陷

2.單項(xiàng)選擇題單面反射法檢測(cè)內(nèi)部缺陷的法范圍為()

A.0.15~2m
B.0.15~4m
C.0.2~2m
D.0.2~4m

3.單項(xiàng)選擇題沖擊彈性波檢測(cè)設(shè)備的使用環(huán)境溫度為()

A.-5℃~30℃
B.0℃~30℃
C.-5℃~40℃
D.0℃~40℃

5.單項(xiàng)選擇題混凝土材質(zhì)檢測(cè)的方法包括:()

A.P波:雙面透過法
B.P波:?jiǎn)蚊鎮(zhèn)鞑シ?br /> C.R波:表面波法
D.以上均包括

最新試題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測(cè),若反面還需打底,則無需X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

航天無損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。

題型:判斷題