A.10.0MHz
B.5.0MHz
C.2.5MHz
D.以上都可以
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你可能感興趣的試題
A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
A.對于信噪比要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
C.對于定量要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.對于定位要求高的情況,選擇垂直線性好的儀器
A.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于衰減大的情況,選擇寬頻帶儀器
C.對于定位要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.以上都正確
A.檢測大厚度件,選擇較低的頻率有利于減少聲程衰減
B.檢測小厚度件,選擇較高的頻率有利于提高表面缺陷的檢測能力
C.檢測表面粗糙件,選擇較低頻率有利于減少表面散射損耗
D.以上都正確
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測頻率
C.探頭
D.以上都是
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。