A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
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A.對(duì)于信噪比要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對(duì)于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
C.對(duì)于定量要求高的情況,選擇水平線(xiàn)性好的儀器
D.對(duì)于定位要求高的情況,選擇垂直線(xiàn)性好的儀器
A.對(duì)于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對(duì)于衰減大的情況,選擇寬頻帶儀器
C.對(duì)于定位要求高的情況,選擇水平線(xiàn)性好的儀器
D.以上都正確
A.檢測(cè)大厚度件,選擇較低的頻率有利于減少聲程衰減
B.檢測(cè)小厚度件,選擇較高的頻率有利于提高表面缺陷的檢測(cè)能力
C.檢測(cè)表面粗糙件,選擇較低頻率有利于減少表面散射損耗
D.以上都正確
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.探頭
D.以上都是
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.聲入射方向
D.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。