A.直通波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
B.始脈沖波、直通波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
C.始脈沖波、底面波、底面的波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.楔塊中的耦合劑干了
B.連接到探頭的電纜斷了
C.增益設(shè)置低了
D.脈沖重復(fù)頻率設(shè)置低了
A.25.8μs
B.39.77μs
C.19.1μs
D.31.2μs
A.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過(guò)底面反射縱波信號(hào)處
B.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過(guò)底面反射縱波信號(hào)處
C.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過(guò)第一種底面反射變型波處
D.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過(guò)第一種底面反射變型波處
A.焊縫余高的寬度
B.越大越好
C.越小越好
D.通過(guò)計(jì)算和工件厚度
A.底面波形轉(zhuǎn)換信號(hào)
B.直通波信號(hào)
C.起始信號(hào)
D.底面的反射縱波信號(hào)
最新試題
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）
以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）