A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時(shí)探頭間距不能太大,以確?;夭ㄔ诘撞úㄐ娃D(zhuǎn)換之前到達(dá)
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A.采用的TOFD和脈沖反射法組合檢測
B.檢測筒體縱焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
C.檢測筒體環(huán)焊縫時(shí)從內(nèi)表面掃查
D.從內(nèi)表面和外表面進(jìn)行兩次掃查
A.提高缺陷長度測量的精度
B.增大有效檢測范圍
C.消除底面焊縫成形不良的影響
D.有利于發(fā)現(xiàn)焊縫中的橫向缺陷
A.0.85mm
B.0.50mm
C.5.27mm
D.0.23mm
A.在大于50℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測
B.在100℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測
C.在150℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測
D.在200℃時(shí)進(jìn)行TOFD檢測
A.波束擴(kuò)散越大,近場長度N越小,輻射超聲能量越低
B.波束擴(kuò)散越大,近場長度N越小,國投超聲能量越高
C.波束擴(kuò)散越大,近場長度N越大,輻射超聲能量越低
D.波束擴(kuò)散越小,近場長度N越小,輻射超聲能量越氏
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
影響較大的散射線通常來自()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
探頭的分辨力()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()