問答題簡述CSK—ⅠA試塊與ⅡW試塊相比有哪些改變。這些改變有何用途?
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縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型:單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項(xiàng)選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:單項(xiàng)選擇題