問(wèn)答題方晶片橫波斜探頭的聲場(chǎng)與圓晶片縱波直探頭的聲場(chǎng)主要有哪些區(qū)別?
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實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題