A.水層厚度
B.焦距和聚焦探頭的曲率半徑
C.掃查速度和重復(fù)頻率
D.探頭旋轉(zhuǎn)式設(shè)備的電耦合信號(hào)傳輸速度
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A.橫向缺陷的檢測(cè)采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應(yīng)吻合良好
C.掃差靈敏度在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高9dB
D.在檢測(cè)縱向缺陷時(shí),探頭沿螺旋線進(jìn)行掃查
A.折射角采用棱角反射法測(cè)定
B.入射點(diǎn)測(cè)定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測(cè)定入射角
D.利用曲面對(duì)比試塊測(cè)定入射點(diǎn)和折射角
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進(jìn)行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網(wǎng)絡(luò)標(biāo)記顯示二值化圖像
D.缺陷評(píng)定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標(biāo)準(zhǔn)
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時(shí)即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時(shí)即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時(shí)即作為缺陷處理
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
儀器水平線性影響()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。